该设备可在30MHz频率范围内精确测量软磁性材料及部件的磁特性，10MHz时相位测量精度为±0.15°，30MHz时精度为±0.30°（单绕线法，代表值）。双绕线法支持高达30MHz测量（精度保证至10MHz）。支持通过选件扩展测试频率，单次测量可获取26项参数，操作方式包括正面面板及外接鼠标/键盘。解析功能允许设置测量次数和间隔，并可显示最大值、最小值或平均值。可选频率扩展选件包括SY-8264（10Hz～1MHz）、SY-600（1MHz～10MHz）、SY-601（1MHz～20MHz）和SY-602（1MHz～30MHz）。
特点
● 从低频到高频30MHz，准确测量软磁性材料及软磁性部件的磁特性
● 10MHz测量，相位测量精度为±0.15°（代表值）
● 30MHz测量，相位测量精度为±0.30°（单绕线法※1、代表値）
● 双绕线法也可实现高达30MHz的测量（精度保证仅到10MHz※3）
● 无论是购买时，还是购买后，均可通过追加频率选件扩展测试频率
● 单次测量可获取26项测量参数
● 不仅可通过正面操作面板操作，也可通过外接鼠标/键盘操作。
● “解析功能”可设置单次测量的测量次数和间隔（可选择显示：最大值/最小值/平均值）
无论是购买时，还是购买后均可通过追加频率选件扩展测试频率.
SY-8264 10Hz～1MHz
○测试频率选件 SY-600 1MHz～10MHz
○测试频率选件 SY-601 1MHz～20MHz
○测试频率选件 SY-602 1MHz～30MHz
