阻抗分析仪

NEW  阻抗分析仪

ZA57630

特点

结合用途配备丰富的功能！
以最适合DUT特性的设定，支持高重现性且准确的测量。
准确的评价基于实际使用的操作条件。

电子零件、电子材料可能因测量频率及施加的信号级别而表现出不同的特性。电容器和电感器存在因寄生成分引发的频率依赖性，二极管等半导体器件由于 DC 偏置叠加而产生特性变化。
要评价真实的特性，重要的是频率、AC 振幅和 DC 偏置的扫频，在实际的操作条件下进行测量。

 

 

扫频   频率、AC 振幅、DC 偏置、零频宽

AC 振幅扫描

扫频

DC 偏置扫频

零频宽

不变更频率、AC 振幅和 DC 偏置的参数，按恒定的条件进行测量，观察不同时间的特性变化（横轴：时间）

 

 

---

 

 

测量条件等的设定

在 1 个界面内直观地进行详细设定

设定项目（SETTING VIEW）

设定图表轴

设定频率

 

---

 

 

量程

自动量程

监视测量结果，同时自动设定最合适的量程进行测量。
检测到超过量程的外部噪声或直流分量时，重新设定为更大的量程并重新测量。测量数据的变化大时启用。

固定量程

量程固定，因此不会产生因量程变化引发的测量值不连续（段差）。

 

---

 

 

延迟功能

如果在扫描过程中变更了频率、AC 振幅等扫描参数，则瞬态响应将导致测量结果出现误差。参数变更后，可以延迟开始测量的时间。延迟包括“延迟开始测量”和“延迟测量”，前者在开始测量时延迟，后者在扫描过程中每次变更参数时延迟。

 

---

 

 

自动高密度扫频

在扫频测量中，本功能限定在测量数据突变的区间自动提高频率密度进行测量。
在压电振荡器、晶体振荡器等的共振特性测量中，本功能在相位急剧变化的共振附近的测量中启用。

 

---

 

 

误差校正

为进行准确的评价，需根据测量误差因子进行校正。

 

为进行准确的测量，需适当校正残余阻抗、电缆长度等各种测量误差因子。

开路校正

减少因残余导纳引起的误差

短路校正

减少因残余阻抗引起的误差

负载校正

以具有已知值的试样作为标准阻抗，校正与真值的偏差

端口延长

使用长电缆时，校正因传输延迟时间而产生的相位误差

电位梯度消除

消除测量信号所含的电位波动波形的影响。在由于电池等的充放电会引起电位变化的试样的测量中启用

补偿

预先测量连接到外部的传感器、电缆等测量系统的频率特性，校正测量系统的误差成分

输入加权码

校正探头的衰减量及前置放大器的增益

自行校准

校正自身误差

 

---

 

 

标记操作

本功能用于读取所显示的图表中 X、Y1、Y2 的测量值。
最多可使用 8 个标记。

Δ标记　显示与基准标记（标记 1）的差异

ΔTRKG 标记

与Δ标记同样显示差异，移动到标记 1 时，保持恒定的扫描值差异，同时进行移动

标记搜索功能

可自动搜索与设定条件一致的点

 

---

 

 

顺序测量

本功能预先设定多项所需的测量条件，按照该条件依次进行测量。最多可将扫描范围分割成 32 部分，各范围内按照不同的测量条件进行测量。
可高效地测量因电压值而使特性发生变化的多层陶瓷电容器（MLCC）、电感器及变压器等器件。

 

---

 

 

图表显示

SINGLE 显示 /SPLIT 显示

可选择在 1 个画面内显示 1 个图表的“SINGLE”和上下显示 2 个图表的“SPLIT”

相位显示操作

±180°、0°～＋360°、－360°～0°、UNWRAP（连续显示）、 360°移位、孔径（群延迟特性）

迹线操作

可改写测量数据迹线（MEAS）和最多 8 条参照数据迹线（REF）

自动存储

本功能在扫描测量结束后自动将 MEAS 迹线复制到 REF 迹线中。在随时间而变化的特性观测中启用。

● SPLIT 显示

● 自动存储

 

---

 

 

共振点跟踪测量

本功能在测量具有共振的试样时，使测量频率自动跟踪试样的共振频率。 即使试样具有振幅依赖性或共振频率随时间变化而波动，也可以始终进行与共振频率一致的测量。本功能便于在压电元件的共振点附近进行连续测量。

 

---

 

 

等效电路估算

本功能将扫频测量获得的阻抗特性应用于等效电路模型，从而求出LCR 元件的值（电感值、电容值、电阻值）。准备有以下 6 种模型。等效电路估算结果可以用 CSV 格式保存。

 

等效电路模型

 

 

---

 

 

压电常数计算

本功能测量压电陶瓷的频率 - 阻抗特性，并计算机电耦合系数和压电常数等。

按照 JEITA 标准《EM-4501A　压电陶瓷振荡器的电气试验方法》规定的方法计算参数。

 

测量结果显示

 

常数计算画面

 

---

 

 

相对介电常数测量

可以预先设定试样尺寸等信息，将阻抗测量结果（Cp，Rp）换算为复相对介电常数进行显示。

● 相对介电常数 εs

● 相对介电常数实部 εs’

● 相对介电常数虚部 εs”

● 损耗率 Dε

 

εs’−εs”

 

εs−Dε

 

---

 

 

相对导磁率测量

可以预先设定试样尺寸等信息，将阻抗测量结果（Ls, Rs）换算为复相对导磁率进行显示。

● 相对导磁率µs

● 相对导磁率实部 µs’

● 相对导磁率虚部 µs”

● 损耗率 Dµ

 

µs’−µs”

 

µs−Dµ

 

---

 

 

比较器 / 处理器接口  用于生产线!

测量速度 最快 0.5 ms/point，缩短了节拍时间，
并进一步完善了零件筛选功能!!

 

比较器功能针对测量结果预先设定判定范围，为筛选试样而进行分类以及判定是否合格。

 

比较器设定画面

 

分类判定

本功能最多可将判定结果分为14类。判定结果

 

极限判定

本功能在已设定的范围内判定测量结果是否合格。

 

区域判定

本功能通过X轴(扫描参数)和Y1/Y2轴(测量结果)的2个维度判定扫描测量结果是否合格。

 

处理器接口

可以将比较器的判定结果输出到背面面板上配备的处理器接口连接器。通过连接零件处理器，可以构建零件的自动判别系统。

 

---

 

 

外部基准时钟

外部的 10MHz 时钟信号可以用作基准时钟。
通过使用精度高于内部基准时钟的基准时钟，可以提高测量频率的精度和稳定性。
此外，通过采用与其他仪器通用的基准时钟，可以共享频率精度。

 

---

 

 

存储器操作

测量条件及测量数据可以保存到内存或 USB 存储器中，也可以进行读取。

 

---

 

阻抗分析仪

NEW  阻抗分析仪

ZA57630

规格

下载：ZA57630 主要规格 (PDF:453KB)

阻抗分析仪

NEW  阻抗分析仪

ZA57630

外观尺寸

阻抗分析仪

NEW  阻抗分析仪

ZA57630

附带品

 

使用说明书（基本篇、应用篇、外部控制　各 1）

 

电源线组件（带 3 芯插头 , 2m） 1

 

校准治具 1

 

100 Ω电阻器 1

 

阻抗分析仪

NEW  阻抗分析仪

ZA57630

选购件

型 号	品 名	补充说明
PA−001−3233	100 Ω电阻器	维护用
PA−001−3234	校准治具	维护用
PA−001−3270	架式套件（EIA）
PA−001−3271	架式套件（JIS）

 

 

测试夹具、测试导线

通用部件

针对多种形状的被测物稳定测试

● 2324 4端子鳄鱼夹测试导线 测量频率 ≤ 100 kHz	● 2325AL, 2325AM 开尔文夹测试导线 测量频率 ≤ 100 kHz
● ZM2392 开尔文测量夹测试导线 测量频率 ≤ 20 kHz	● ZM2391 3端子鳄鱼夹测试导线 测量频率 ≤ 20 kHz

 

芯片部件

2端子或4端子连接的表面镶嵌安装部件测试用治

● ZM2394 芯片测试夹具 测量频率 ≤ 2 MHz 对应部件尺寸 0603 (厚度 0.3mm)～ 14 mm 角	● ZM2394H 芯片测试夹具 测量频率 ≤ 30 MHz 对应部件尺寸 0603 (厚度 0.3mm)～ 14 mm 角	● ZM2393 芯片测试夹具 测量频率 ≤ 1.2 MHz 对应部件尺寸 1608～5750
● ZM2366 芯片部件用测试导线 测量频率 ≤ 10 MHz 先端间隔 0～8 mm (typ.)	● 2326A 芯片部件用测试导线 测量频率 ≤ 1.2 MHz 先端间隔 0～8 mm (typ.)

 

导线类部件

插入试料上部便可进行测试

● ZM2363 测试夹具 测量频率 ≤ 10 MHz