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宽频数字锁相放大器 LI5660
宽频数字锁相放大器
5 Hz to 11 MHz,
双相位，双频
宽频数字锁相放大器
5 Hz to 11 MHz,
双相位，双频
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锁相放大器可检测到被噪声掩盖的非常细微的交流信号，被广泛应用于扫描探针显微镜，大赫兹光谱仪.自旋电子学等最尖端研究领域 |
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频率量程 LI5660: 0.5 Hz 至 11 MHz* *当高频输入端使用时 LI5655: 0.5 Hz 至 3 MHz LI5650/LI5645: 1 mHz 至 250 kHz |
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电压测量 |
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电流测量 10 fA 至 1 μA F.S. (不包含 LI5645) |
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最小时间常数 |
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动态保留100 dB 或以上 |
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模拟输出刷新率 |
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双频率同时测量 (LI5660/LI5655/LI5650) |
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分数谐波测量 按基波分数倍的频率(1 至 63) / (1 至 63)进行测量 |
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外部10 MHz同步输入 |
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测量参数: X, Y, R, θ, DC, Noise |
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接口: USB, GPIB, LAN |
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薄型 2U 尺寸 (88 mm) |
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| 高速响应和高稳定度 |
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| 电压测量可由单端完成（A）或差分（A-B）输入，LI5660终端既有10 Vrms输入（C）也有高频（HF）输入。HF输入端可用于高达11MHz的测量. |
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测量可以在基础波型因数的频率因数（1至63）/（1至63）进行. 提供基本波型次数倍频率的测量。在LI5660/LI5655/LI5645双频测量模式，可设置首次PSD和第二次PSD的个体频率。例如，首次PSD设置为N / M与参考信号的频率，和二次PSD设置为N次类似参考信号的频率或设置为与主要频率不同的频率. |
 分次谐波 |
| 谐波测量是由两个测量频率之间的整数倍 (f2 = (f1 x n) ). 在这种情况下, 在f1 端信号结果在一个积分多频 (谐波)失真, 不能区分于f2信号. 如果是分数谐波测试, 测试可以以f2 = f1 x n/m 的关系式进行, 这意味着即使失真的谐波产生于f1, 频率也可被设定以便不影响f2. f2 高灵敏度谐波测量是可行的，且不受 f1谐波影响. | |
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LI5660/LI5655/LI5650 搭配2相位敏感检波器 (PSD), 允许包括在一个单一输入信号中的两个频率分量的同时测量. 以往需要使用两台锁相放大器，使用双子束方法只需一台锁相放大器. 可求出测定量与基准值之比的比例运算，以及主检波器进行与副检波器的联级，可在主检波器对信号进行检波后，再用副检波器进行检波. |
 检测模式 (Dual 1) |
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| * LI5645的检测模式仅为 "单一"模式. | ||||||||||||||||||||||
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| 使LI5600系列按通用的10 MHz频率源于信号发生器等其他设备同步运行 (可设置) 无需使用外部参考信号(REF IN). |
 外部10 MHz 参考信号输入设置 |
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LI5660 |
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| : 请参阅规格. |
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以 STM (扫描隧道显微镜) 和 AFM (原子力显微镜)为代表的扫描探针显微镜使用纳米级的探针在样本表面上扫描，检测探针与样本之间的信号.观察样本表面的电子状态和结构，物理及化学性质。 锁相放大器用于控制样本与探针的距离等. 如采用 LI5600系列，不仅支持 MHz 量程的高谐波频率, 还可通过缩小时间常数 (从 1 μs)实现高速扫描，并可短时间内形成图像. 另外，通过同步滤波器，大幅降低相位检波输出的波动，不仅提高速度，还有助于实现高画质. 除STM和ATM，锁相放大器还应用于 KFM (表面电位显微镜)的调制信号解调等信号处理. |
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如并用双频同时测量和分数谐波测量的功能，则1台 LI5660/ LI5655/LI5650就可进行双光束法(比例测量)的光源等的波动校正. 通过基准单元的信号施加负反馈，还可实现光源强度的稳定化. 可设定参照信号的整数倍(n x), 整数分之一 (1/m x)，分数比 (n/m x) ，因此可灵活对应光调制的频率比。另外，在整数比的情况下，与信号失真引起的谐波分量无法区别，而采用分数比就不受到谐波的影响. 并采用10 MHz同步功能与外部的信号发生器保持同步后，还可进行采用任意2个频率的检测. |
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霍尔电压与2种信号(电流与磁场)之积成正比,其频率为2种信号之差 (或和)频率.使产生电流和磁场的外部信号源 LI5600系列在外部 10 MHz下同步，针对任意不同的两个频率，即使没有外部参照信号 (差频)，也可进行差频信号的测量 (如使用双通道输出和频率基准输出的信号发生器等) 如果原有的频率为整数*比,则还可利用分数谐波测量功能进行差频信号的测量。并且，都可以避免由于外部参照信号而造成的串扰. |
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